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開循環低溫探針臺 (LPS-50)
產品概要:
低溫探針(zhen)(zhen)臺可(ke)(ke)以對器件進(jin)行(xing)(xing)非破壞(huai)性(xing)的測試,器件的最大尺(chi)寸可(ke)(ke)達到102mm(4inch)。一般來講, 納米電子(zi)(zi)(zi)材(cai)(cai)料(liao)、量子(zi)(zi)(zi)線、量子(zi)(zi)(zi)點和半(ban)導體材(cai)(cai)料(liao)是在低溫探針(zhen)(zhen)臺在進(jin)行(xing)(xing)測量的比較典型的材(cai)(cai)料(liao)。系統的探針(zhen)(zhen)、測試電纜、樣品架都有多(duo)種類型可(ke)(ke)供選擇,從而滿足不(bu)同用(yong)戶(hu)的需要。
基本信息:
1、系統(tong)可(ke)使用液(ye)氮或液(ye)氦制冷,基本系統(tong)溫度 范(fan)圍:4.2/77 K to 500 K
2、高溫選件,溫度范圍可到 20K-700K
3、¢5mm(0.2 in)光(guang)學樣(yang)品架,可以從(cong)背面照射(she)樣(yang)品
4、樣品臺(tai)旋轉選件,旋轉角(jiao)度±180 度,角(jiao)度分辨(bian)率
5、0.1 度(du),可選手動或電(dian)動旋轉
6、測量 DC 到 67GHz
7、最大測(ce)試樣(yang)品尺寸 51mm 直徑
8、最多(duo)可使(shi)用 6 個(ge)探針臂
9、探針(zhen)臂上(shang)安(an)裝溫度感器進行溫度監測
10、控溫穩定性: ±50mK
11、探針臂 3 軸方向可(ke)調節,并(bing)可(ke)進(jin)行面內(nei)±5°旋轉
技術優勢:
1、電纜(lan)、屏蔽和(he) Guard 保護進(jin)一步(bu)減少了電噪聲和(he)熱輻(fu)射損失(shi)
2、支持未來升級閉循(xun)環,可將溫度范圍擴(kuo)展到 4k
3、控溫穩定性大大增強
4、實時進行溫度檢測(ce)
應用方向:
它(ta)為材料或器件的電學特性(xing)測(ce)量、光電特性(xing)測(ce)量、參數測(ce)量、 high Z 測(ce)量、DC 測(ce)量、RF 測(ce)量和(he)微波特性(xing)測(ce)量提供(gong)一個測(ce)試平臺。
開循環低溫探針臺 (LPS-50)
配置:
1. 樣品臺:2寸
2. 支(zhi)持6套DC探針
3. 溫度范圍:80k-500k
4. 支(zhi)持(chi)低于100fA的漏(lou)電測試