隨著高(gao)速互聯鏈路(lu)信(xin)號(hao)(hao)傳輸速率的(de)(de)(de)(de)不斷提高(gao)，作為器(qi)件和信(xin)號(hao)(hao)傳輸的(de)(de)(de)(de)載(zai)體，印(yin)制電路(lu)板（PCB）的(de)(de)(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)完整性對(dui)通(tong)信(xin)系統(tong)的(de)(de)(de)(de)電氣(qi)性能(neng)有(you)(you)著至關(guan)重(zhong)要(yao)的(de)(de)(de)(de)影響。尤其是10G和25G+產(chan)(chan)品的(de)(de)(de)(de)大(da)規模商(shang)用(yong)，對(dui)PCB傳輸線插入(ru)損耗(hao)（Insertion Loss）指標的(de)(de)(de)(de)監控(kong)(kong)是高(gao)速PCB研發和量產(chan)(chan)過程中(zhong)管控(kong)(kong)的(de)(de)(de)(de)重(zhong)要(yao)手(shou)段，不同(tong)(tong)高(gao)速產(chan)(chan)品，客戶對(dui)信(xin)號(hao)(hao)損耗(hao)會有(you)(you)不同(tong)(tong)的(de)(de)(de)(de)要(yao)求(qiu)，以服(fu)務器(qi)產(chan)(chan)品為例，Intel基(ji)于不同(tong)(tong)的(de)(de)(de)(de)服(fu)務器(qi)平(ping)臺，對(dui)PCB帶狀線和微(wei)帶線的(de)(de)(de)(de)損耗(hao)有(you)(you)著不同(tong)(tong)的(de)(de)(de)(de)損耗(hao)控(kong)(kong)制要(yao)求(qiu)。

        Delta L法(fa)(fa)是Intel提出，目前(qian)已大量應用(yong)于服務器產品量產測試的(de)(de)(de)(de)(de)方法(fa)(fa)，是SET2DIL方法(fa)(fa)的(de)(de)(de)(de)(de)替(ti)代。Delta L法(fa)(fa)設(she)計兩(liang)條(tiao)不(bu)同長(chang)度(du)的(de)(de)(de)(de)(de)傳輸線(xian)(xian)（如圖6所示），傳輸線(xian)(xian)通過過孔（Via）、焊(han)盤（Pad）等連接至測試探針(zhen)或SMA，采用(yong)VNA測試長(chang)短線(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)插(cha)損(sun)(sun)值(zhi)，其中(zhong)，結構A的(de)(de)(de)(de)(de)插(cha)損(sun)(sun)值(zhi)ILA = ILX1 + ILVias，結構B的(de)(de)(de)(de)(de)插(cha)損(sun)(sun)值(zhi)ILB = ILX2 + ILVias，在獲取長(chang)短線(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)插(cha)損(sun)(sun)后，先進行擬合運算，消除多重反(fan)(fan)射的(de)(de)(de)(de)(de)影響，再直接做差(cha)值(zhi)操(cao)作，從(cong)而(er)獲得單(dan)位長(chang)度(du)傳輸線(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)插(cha)損(sun)(sun)值(zhi)：IL = (ILA-ILB) / (X1-X2)。為弱化測試系統的(de)(de)(de)(de)(de)的(de)(de)(de)(de)(de)不(bu)匹(pi)配效(xiao)應及多重反(fan)(fan)射對插(cha)損(sun)(sun)結果的(de)(de)(de)(de)(de)影響，Delta L法(fa)(fa)對長(chang)度(du)線(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)長(chang)度(du)有嚴(yan)格要求，一般地，長(chang)短線(xian)(xian)差(cha)異(yi)需(xu)大于7.5 cm，以使(shi)多重反(fan)(fan)射的(de)(de)(de)(de)(de)影響最小(xiao)化。

        英鉑(bo)科(ke)學儀器(qi)提(ti)(ti)供Delta-L3.0，Delta-L4.0先進intel測試(shi)算法以(yi)及測試(shi)夾(jia)具(ju)精確的測試(shi)高達(da)40GHz的插入(ru)損耗（IL）值，提(ti)(ti)供Pass/Fail判斷(duan)，通過軟(ruan)件(jian)連(lian)接(jie)矢量(liang)網絡(luo)分析儀(VNA)，數(shu)據批量(liang)測試(shi)能力強(qiang)，支持SMA接(jie)頭以(yi)及專(zhuan)用探(tan)頭硬(ying)件(jian)連(lian)接(jie)方式。