概述

LIV即光電特性，是(shi)驗證激光二極管、探(tan)測器(qi)性能的普遍的方法。在晶(jing)圓、切(qie)割、管芯、封裝后老化(hua)測試過程(cheng)中，為降低生產(chan)成(cheng)本同時(shi)增加產(chan)品吞吐量，快速(su)可靠(kao)的 LIV測試 系統對制造(zao)光電器(qi)件的工廠是(shi)很重要的。

根據Laser Diode工作原理(li)，通常技術人員要(yao)用到(dao)電流(liu)源(yuan)來(lai)(lai)驅動(dong)LD工作，產生光(guang)的同時用光(guang)功率計測(ce)量(liang)光(guang)功率來(lai)(lai)完成(cheng)(cheng)LIV 特性(xing)(xing)測(ce)試(shi)(shi)(shi)。在(zai)不(bu)同的測(ce)試(shi)(shi)(shi)階段例如Chip測(ce)試(shi)(shi)(shi)，技術人員將(jiang)電流(liu)源(yuan)、電壓表、電流(liu)表、開(kai)關、同步觸發(fa)單元、光(guang)功率計集成(cheng)(cheng)起來(lai)(lai)才能完成(cheng)(cheng)測(ce)試(shi)(shi)(shi)，同時老化(hua)測(ce)試(shi)(shi)(shi)前后需要(yao)將(jiang)每個管芯(xin)或模塊(kuai)的測(ce)試(shi)(shi)(shi)數據進(jin)行比對，大(da)大(da)增加了(le)系統的復雜程度，影(ying)響了(le)測(ce)試(shi)(shi)(shi)精度和數據可(ke)靠性(xing)(xing)。

英鉑(bo)科學儀器的LIV測(ce)試(shi)系統(tong)采(cai)用Keithley精(jing)密(mi)源(yuan)測(ce)量單元(yuan)為核(he)心(xin)，結合測(ce)試(shi)軟件CycleStar以(yi)及(ji)第(di)三方(fang)設備(bei)積分球探測(ce)器完成LD 的 LIV 測(ce)試(shi)。系統(tong)結構簡單、精(jing)度高、可(ke)靠性好、速度快，提高生產效(xiao)率的同時也增加了測(ce)試(shi)精(jing)度和(he)可(ke)靠性，并且降低了測(ce)試(shi)成本。