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MPI Die Prober Series
產品概要:
MPI模具(ju)探針系列-極快的探測和分類周期,以降低測試(shi)成本。
基本信息:
無論是VCSEL, EEL, PD還是LED, MPI廣泛的(de)Die probe系(xi)(xi)列都能(neng)提供高性能(neng)的(de)系(xi)(xi)統性能(neng),以滿足測試(shi)(shi)和測量要求(qiu)。憑借其靈活的(de)系(xi)(xi)統可配置選項,快(kuai)速的(de)探針和測試(shi)(shi)周期(qi)時間(jian)以及(ji)多(duo)站點測試(shi)(shi)能(neng)力,MPI模具探針將您(nin)的(de)生(sheng)產提升(sheng)到一個新的(de)水平,并將成(cheng)為您(nin)測試(shi)(shi)各種光子學器件的(de)完美系(xi)(xi)統。
技術優勢:
1、高可配置性
2、減少測試費用
3、多點試驗
4、熱測試
5、快速準確的取(qu)放(fang)能(neng)力
6、高速循環
7、物料搬運能力
8、優異的測試精度
應用方向:
MPI Die Prober Series
MPI Die Prober Series