英鉑實驗室測試中心現有測試類型:直流測試、射頻測試、
高壓大電流測(ce)試、光電測(ce)試、極低溫磁場測(ce)試、ESD/TLP測(ce)試、PCB板(ban)級測(ce)試等
英鉑為(wei)您(nin)提供(gong)DC、各類開(kai)爾文探針,以供(gong)產品測試使(shi)用(yong)。
DC探針:適用于常(chang)規漏電(dian)流(liu)測試
開爾文探針(zhen):更低的(de)(de)漏電(dian)流和更好的(de)(de)可靠性,可以(yi)適用于高(gao)低溫下的(de)(de)測試
適用(yong)于各種晶圓測試。
上(shang)海(hai)市松江區廣富林東路199號(hao)啟迪漕河涇(jing)三期13幢(chuang)2層
上海市高新(xin)技術企(qi)業,上海市“專精特新(xin)”企(qi)業
COPYRIGHT 2017-2023 ? 英鉑科學儀器(上海)有限公司 ALLRIGHT RESERVED 備案號: XML地圖