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新聞活動

英鉑科學 參加第十三屆蘇州納博會返回列表

2023年3月1日,英鉑科學儀器參加了納米技術領域新年第一會——第十三屆中國國際納米技術產業博覽會(簡稱“納博會”),在蘇州國際博覽中心盛大召開。

2023年3月1日,英鉑科(ke)學(xue)儀器參(can)加(jia)了納米技術領域新年第一會——第十三屆(jie)中(zhong)國國際納米技術產業博覽會(簡稱(cheng)“納博會”),在蘇州(zhou)國際博覽中(zhong)心盛大(da)召開(kai),經過三天緊張(zhang)有序的參(can)展(zhan)交流,收獲頗(po)多,本次納(na)博會圓滿落幕。

主營產品

·實驗(yan)室及(ji)產線CP/WAT全套測試(shi)設備和解決(jue)方(fang)案

·各類型(xing)探針臺(手(shou)動、半(ban)自動、全自動、真空、極低溫、磁場、光電等)

·各功能型號(hao)儀(yi)表(biao)(源表(biao)、半導體參數分析(xi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)、網(wang)絡分析(xi)儀(yi)、負(fu)載牽(qian)引、ESD/TLP測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)、Pulsed-IV系統、高壓(ya)大(da)電流(liu)測(ce)(ce)試(shi)(shi)機等)

·各功能定制軟件

·各類常用(yong)耗材(cai)和備件(jian)

針對領域:

·IV/CV等建模、測(ce)試

·RF及mmW等建模、測試、量產測試

·HV/HC等大功率(lv)器件建(jian)模、測(ce)試、量(liang)產測(ce)試

·RE可靠性測試(shi)

·FA失(shi)效分(fen)析

·FT熱循(xun)環(huan)測試

·PD/APD、激(ji)光等光電(dian)產品量產測試

 

作(zuo)為(wei)萬(wan)眾矚目的開年(nian)首場(chang)納米技術領域國(guo)際性的綜(zong)合展會(hui),本屆納博(bo)會(hui)規模質量再(zai)提(ti)升,以(yi)1場(chang)主(zhu)(zhu)報告(gao)、11場(chang)分(fen)論壇、2場(chang)創新(xin)創業(ye)大賽(sai),1場(chang)新(xin)產(chan)品發(fa)布會(hui)為(wei)主(zhu)(zhu),邀請到國(guo)內外19位院士、300多位高校研究(jiu)院所、上市公司、知(zhi)名企業(ye)機構的頂級專(zhuan)家代(dai)表出席并演講(jiang),分(fen)享(xiang)專(zhuan)業(ye)報告(gao)344場(chang),較往屆增加37場(chang),累(lei)計吸(xi)引9383名專(zhuan)業(ye)嘉(jia)賓參會(hui)聽會(hui)。

展區擴大(da)10%,面(mian)積達22000㎡,布置標準展位(wei)580個(ge),300多家展商參展,匯聚了(le)全球納米(mi)技(ji)術領域最新技(ji)術產品和創新應用(yong)2200多件,精彩紛呈,吸(xi)引2000多家機構的16412位(wei)嘉賓(bin)現場觀展。期間,參會(hui)參展嘉賓(bin)總(zong)人(ren)(ren)數達25795人(ren)(ren)。