英鉑科學 參加第五屆深圳國際半導體技術暨應用展覽會返回列表
2023年5月16日(ri)-5月18日(ri)，第五屆(jie)SEMI-e 深(shen)(shen)圳國際半(ban)導體技術暨(ji)應用展(zhan)覽會(hui)(hui)在深(shen)(shen)圳國際會(hui)(hui)展(zhan)中心（寶安新館(guan)）成功召開。本屆(jie)展(zhan)會(hui)(hui)以精準的(de)市場定位(wei)，為半(ban)導體產業(ye)鏈上(shang)中下游節(jie)點的(de)企業(ye)搭建(jian)出共享、交流、共創的(de)廣闊平臺，為行業(ye)打造了一(yi)場“雙(shuang)向奔赴”的(de)采購盛(sheng)宴。
主營產品
·實(shi)驗室(shi)及(ji)產線CP/WAT全套測試設(she)備和解決方案
·各類型探(tan)針臺(手動(dong)(dong)、半自動(dong)(dong)、全(quan)自動(dong)(dong)、真空、極低溫、磁場(chang)、光(guang)電等)
·各(ge)功(gong)能型號儀(yi)表(源表、半導體參(can)數(shu)分析測試儀(yi)、網(wang)絡分析儀(yi)、負載(zai)牽引、ESD/TLP測試儀(yi)、Pulsed-IV系統、高壓(ya)大(da)電流測試機等)
·各功能定制(zhi)軟件
·各類常用耗材和備件
針對領域：
·IV/CV等建模、測試
·RF及(ji)mmW等建模(mo)、測(ce)(ce)試(shi)、量(liang)產測(ce)(ce)試(shi)
·HV/HC等大功率(lv)器件建模、測試(shi)、量產(chan)測試(shi)
·RE可靠性測試
·FA失效分析
·FT熱循(xun)環(huan)測試
·PD/APD、激(ji)光等(deng)光電(dian)產品量(liang)產測試
