- 產品概況
- 功能結構
- 規格參數
- 資料下載
- 視頻
全自動半導體參數分析儀系列
產品概要:
S530 參數(shu)化測試(shi)(shi)系統(tong) 適用于必(bi)須操作各種設備和技術(shu)的(de)(de)生產和實驗(yan)室環境,提供業(ye)界(jie)領先的(de)(de)測試(shi)(shi)計劃靈活性(xing)、自(zi)動化、探頭測試(shi)(shi)臺集成以及測試(shi)(shi)數(shu)據管理功能。吉時(shi)利擁(yong)有超過 30 年(nian)的(de)(de)專業(ye)經驗(yan),針對這些(xie)測試(shi)(shi)解(jie)決方(fang)案的(de)(de)設計向全世界(jie)的(de)(de)客戶提供各種標(biao)準和自(zi)定義參數(shu)化測試(shi)(shi)儀。
基本信息:
Complete test solution 完整的測試方案
1、全(quan)量(liang)(liang)(liang)程(cheng)源測量(liang)(liang)(liang)單元 (SMU) 儀器技術規(gui)格,包括 subfemtoamp 測量(liang)(liang)(liang),確保(bao)在幾乎任何設備上(shang)都能執行廣泛的測量(liang)(liang)(liang)。
2、適用(yong)于內存檢定、電荷泵、單脈沖(chong) PIV(電荷陷阱分析)和(he) PIV 掃(sao)描(自加熱回避)的脈沖(chong)生(sheng)成和(he)超快 I-V。
3、利用支持(chi) Keithley 系(xi)統的可擴展 SMU 儀器,提(ti)供低或高(gao)通道(dao)數系(xi)統,包括并行測試。
4、適用(yong)于測(ce)(ce)試(shi)功率 MOSFET 和顯示驅動器(qi)等測(ce)(ce)試(shi)器(qi)件的(de)高電壓、電流(liu)和功率源測(ce)(ce)量(liang)儀(yi)器(qi)。
技術優勢:
S530 功能
1、能輕松適應(ying)新(xin)設備和測試(shi)要(yao)求
2、快速、靈活、交互式測試計劃制定(ding)
3、兼容于常(chang)見的全自動探頭測(ce)試臺(tai)
4、提(ti)供 1kV、C-V、脈沖(chong)生成、頻率(lv)測量和(he)低(di)壓(ya)測量選項
5、兼容于 Keithley 的 9139A 型探頭卡(ka)適配器
6、支持重(zhong)復使用現有的五英(ying)寸探(tan)頭卡庫(ku)
7、經驗(yan)證的儀器技(ji)術(shu)確保在實驗(yan)室和工廠中實現高測量精(jing)度和可重復性
S540 功能
1、在單(dan)次探頭觸(chu)摸中自動在多(duo)達(da)48個(ge)引腳(jiao)上(shang)執行(xing)所有晶片級參數(shu)測試(shi),包括高電壓(ya)擊穿(chuan)、電容(rong)和低電壓(ya)測量,無需更(geng)改電纜或(huo)探頭卡基(ji)礎設施
2、在高達 3kV 的條(tiao)件下(xia)執(zhi)行晶體管電容測量,如 Ciss、Coss 和 Crss,而無需手動配置(zhi)測試(shi)引腳
3、在高速、多引(yin)腳、全自(zi)動(dong)測試環境中實(shi)現低電平測量性能
4、基(ji)于(yu) Linux 的 Keithley 測試環(huan)境 (KTE) 系統軟件(jian)支持輕松進行(xing)測試開發和(he)快速(su)執行(xing)
5、非常適合于過(guo)程集成、過(guo)程控(kong)制(zhi)監(jian)控(kong)和生(sheng)產芯片分類中的全自(zi)(zi)動或半自(zi)(zi)動應用
6、通過最大程度減少測(ce)試時(shi)間、測(ce)試設置(zhi)時(shi)間和占地面積,降(jiang)低擁有成本(ben),同時(shi)實現實驗室級測(ce)量性能
應用方向:
S530 參數(shu)化測試(shi)(shi)系統 適用于必須操(cao)作(zuo)各種設備(bei)和技(ji)術(shu)的(de)生產和實(shi)驗室環境,提(ti)供業(ye)界領(ling)先(xian)的(de)測試(shi)(shi)計劃靈(ling)活(huo)性、自動化、探(tan)頭測試(shi)(shi)臺集成(cheng)以及測試(shi)(shi)數(shu)據管理功能。
540 參(can)數測(ce)(ce)試(shi)系統(tong) 是一個全自動化(hua)(hua)的(de) 48 引(yin)腳參(can)數測(ce)(ce)試(shi)系統(tong),適用于高(gao)達 3kV 的(de)功率(lv)半導體(ti)器件和結構的(de)晶片級測(ce)(ce)試(shi)。完全集成式 S540 已針(zhen)對包括碳化(hua)(hua)硅 (SiC) 和氮化(hua)(hua)鎵(jia) (GaN) 在內的(de)最新復合功率(lv)半導體(ti)材料進行(xing)優化(hua)(hua),可以在單次測(ce)(ce)試(shi)觸摸中(zhong)執行(xing)所有高(gao)電壓、低(di)電壓和電容測(ce)(ce)試(shi)。
S500 集(ji)成(cheng)式(shi)測(ce)(ce)試(shi)系統 是高(gao)度(du)可(ke)配置(zhi)的(de)、基于儀(yi)器的(de)系統,適用于器件(jian)、晶片或暗盒(he)級(ji)半(ban)導體檢(jian)定(ding)。S500 集(ji)成(cheng)式(shi)測(ce)(ce)試(shi)系統基于我們經(jing)過驗(yan)證(zheng)的(de)儀(yi)器,提供創(chuang)新的(de)測(ce)(ce)量功能和(he)系統靈活(huo)(huo)性,并且(qie)根據您的(de)需求可(ke)進行擴展(zhan)。獨有的(de)測(ce)(ce)量能力(li)結合(he)強大(da)而靈活(huo)(huo)的(de)自動化檢(jian)定(ding)套(tao)件(jian) (ACS) 軟件(jian),可(ke)實現廣(guang)泛(fan)應用。