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Cantilever Probe Card
產品概要:
MPl懸臂探針卡(ka)廣泛應(ying)用于金凸點和焊盤晶圓測(ce)試,用于顯示(shi)驅動(dong)器、邏輯和存儲設(she)備。
基本信息:
MPI的懸臂式探(tan)頭是對細(xi)間距、小(xiao)焊盤尺寸、高速(su)、清潔少、多DUT、高引腳數和超低泄漏要求(qiu)的相(xiang)應(ying)解決方案。
技術優勢:
1、使用(yong)對(dui)角線(xian)或托(tuo)架(jia)應(ying)用(yong)程序執行多個DUT配(pei)置,以實現超常規(gui)對(dui)齊和平面度
2、減少高溫或低溫試驗期(qi)間的熱(re)變形
3、R+和U+結(jie)構(gou)的高(gao)速解決(jue)方案,用于(yu)嚴(yan)格的Pl和Sl應(ying)用
4、通過先進的探針材(cai)料和(he)設計,穩定低接(jie)觸(chu)電阻性能(neng)
5、交付周期短(duan),是工(gong)程(cheng)設備的(de)理想選擇(ze)
應用方向:
MPl懸臂探針卡廣(guang)泛(fan)應(ying)用(yong)于金(jin)凸點和(he)焊(han)盤晶圓測試,用(yong)于顯示驅動器、邏(luo)輯(ji)和(he)存儲(chu)設備。