探針臺可(ke)(ke)以將電探針、光(guang)學探針或(huo)射頻探針放置在硅晶片上，從而可(ke)(ke)以與測試(shi)(shi)儀器(qi)/半(ban)導體測試(shi)(shi)系(xi)統配合來測試(shi)(shi)芯(xin)片/半(ban)導體器(qi)件(jian)。這(zhe)些(xie)測試(shi)(shi)可(ke)(ke)以很簡單(dan)，例如(ru)連續性或(huo)隔離(li)檢(jian)查，也可(ke)(ke)以很復雜，包括微電路的(de)(de)完(wan)整功能測試(shi)(shi)。可(ke)(ke)以在將晶圓(yuan)鋸成(cheng)單(dan)個管(guan)芯(xin)之前或(huo)之后進行測試(shi)(shi)。在晶圓(yuan)級別的(de)(de)測試(shi)(shi)允許制(zhi)(zhi)造(zao)商在生(sheng)產(chan)過程中多次測試(shi)(shi)芯(xin)片器(qi)件(jian)undefined，這(zhe)可(ke)(ke)以提供(gong)有關哪些(xie)工藝步驟將缺陷引(yin)入最終(zhong)產(chan)品(pin)的(de)(de)信息。它還(huan)使制(zhi)(zhi)造(zao)商能夠在封裝之前測試(shi)(shi)管(guan)芯(xin)，這(zhe)在封裝成(cheng)本相對(dui)于器(qi)件(jian)成(cheng)本高的(de)(de)應(ying)用中很重要。探針臺還(huan)可(ke)(ke)以用于研發、產(chan)品(pin)開發和(he)故障分(fen)析應(ying)用。

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