高低溫半自動探針臺使用說明詳細介紹返回列表
高低溫半自動探針臺產品有：SiPH Probe SystemTS3000-SE Probe SystemTS3000 Probe SystemTS2000-SE Probe SystemTS2000 Probe S
高低溫半自動探針臺產(chan)品有：
MPI為其著名(ming)的TS2000-SE，TS3000，TS3000-SE，TS3500和TS3500-SE探(tan)針(zhen)系統設計了專用的SiPH升(sheng)級，包括：
• 高精度光纖(xian)對準系統(tong)的各種選項，可用于超快(kuai)速掃描程序
• 面向OO，OE，EO和EE設備配置的多種測量(liang)功能
• 集(ji)成的(de)Z感(gan)應功能可檢測光纖與晶(jing)圓的(de)接觸點
• 使用兩個(ge)光纖臂時的防撞保護
• -40°C至200°C的寬(kuan)溫(wen)度范圍
• 可選的暗箱，用于在密閉環境(jing)中進行測試(shi)
• 廣泛(fan)的軟件包(bao)，支持輕松集成到(dao)操(cao)作(zuo)員的測試(shi)執(zhi)行人員
