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案例

英鉑科學攜手MPI探針臺助力思瑞浦搭建半導體電學測試系統返回列表

MPI探針臺TS3000-SE

產品介紹

TS3000-SE是TS3000探(tan)針臺(tai)系統(tong)的升級(ji)(ji)開發(fa),該系統(tong)配備了MPI ShielDEnvironment™,可實現超低噪聲(sheng),滿足設備的需求(qiu)表征,晶圓級(ji)(ji)可靠性(xing)以及(ji)RF和mmW等多種應用。

產品優勢

• 模(mo)塊量測 - DC-IV, DC-CV, Pulse-IV, ESD, 1/f,RTS

• 射頻和毫(hao)米(mi)波 - 26 GHz 至 110 GHz 及以上

• 可靠性(xing)測試(shi) - 精(jing)確的(de)壓力測試(shi)

• 專(zhuan)為 EMI / RFI / Light-tight 屏蔽(bi)所設計的精密量境,以得到 1/f 超低噪(zao)測(ce)試結(jie)果(guo)

• 支持fA 級超低噪 IV 量測

• 可編程的顯微(wei)鏡(jing)滑臺(tai)實現(xian)自(zi)動化之簡便(bian)操(cao)作

• 具(ju)配置彈性的溫度可量測范圍 -60 °C 至 300 °C

•可拓(tuo)展升級第三方PC控制實(shi)現全自動(dong)控制測試

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