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四探針測試儀的概述和特點
四探針(zhen)測(ce)試(shi)(shi)儀的概述(shu)數字式四探針(zhen)測(ce)試(shi)(shi)儀由主(zhu)機(ji)、測(ce)試(shi)(shi)臺、四探針(zhen)探頭、計算(suan)機(ji)等部分組成(cheng),測(ce)量數據既可(ke)由主(zhu)機(ji)直接顯示,亦可(ke)由計算(suan)機(ji)控(kong)制測(ce)試(shi)(shi) ...
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國內探針臺的分類簡述
探針臺(tai)可(ke)以(yi)按照使用類型與功能來劃分,也可(ke)以(yi)按照操(cao)作方式(shi)來劃分成:手動(dong)探針臺(tai)、半自(zi)動(dong)探針臺(tai)、全自(zi)動(dong)探針臺(tai)。手動(dong)探針臺(tai)系統顧名思義是手 ...
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磁場低溫探針臺技術指標和主要功能
磁場(chang)低溫探針(zhen)臺是一種用于物理學領域的計量儀器,于2017年3月(yue)6日啟用。磁場(chang)低溫探針(zhen)臺技術指標1、 ±2 5T垂(chui)直磁場(chang)2、 10K基礎(chu)溫度(du) ...
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詳解半自動探針臺的技術指標及功能
半自動探針臺技術指(zhi)標支(zhi)持(chi)4,5,6寸wafer 分辨率0 25um 提供(gong)4個SMU接口,可同時輸出(測量)四路直流信號。 每個SMU最大輸出電壓100V(-100 ...
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詳解真空探針臺技術解答
英鉑科學儀器真空探(tan)針臺系列是(shi)不(bu)需要低溫制(zhi)冷劑的(de)探(tan)針臺,它可(ke)以對器件進行非破壞性的(de)測試,器件的(de)最大尺(chi)寸可(ke)達到51mm(2inch)。它可(ke)以對材 ...
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詳解探針臺和點針工作站的操作步驟
一(yi) 探針(zhen)(zhen)臺操(cao)作(zuo)步驟(zou):1 將(jiang)測試產品(pin)放入探針(zhen)(zhen)臺的臺盤(pan)上;2 打開(kai)顯微鏡光源燈(LED或光源機);3 打開(kai)背光面板光源開(kai)關;4 調(diao)整Z axis高(gao)度(du)對焦, ...
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探針臺可以直接放物品嗎?
探針臺不(bu)可(ke)以直接放物(wu)品,重物(wu)的碰撞及堅銳器物(wu)的劃傷都(dou)將對定子造成損(sun)傷,而影(ying)響平(ping)面電機(ji)的步進(jin)精度及使用壽命(ming)。平(ping)面電機(ji)由定子和動子組(zu)成 ...
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詳解手動探針臺的使用方式
1 將樣(yang)品載入(ru)真空(kong)(kong)卡盤,開啟(qi)真空(kong)(kong)閥門(men)控制(zhi)開關,使(shi)樣(yang)品安全(quan)且牢固(gu)地吸附在(zai)卡盤上。2 使(shi)用(yong)卡盤X軸 Y軸控制(zhi)旋鈕移動卡盤平臺,在(zai)顯微(wei)鏡低倍物 ...
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手動探針臺采購注意事項都有什么?
因手動探(tan)針臺(tai)屬于高定制產品,沒有統(tong)一標準,各單位可以(yi)根據自己(ji)的(de)實(shi)際(ji)實(shi)驗需求,及經(jing)費(fei)情(qing)況,由專(zhuan)業工程師配(pei)合做(zuo)出(chu)具體配(pei)資單,一般(ban)確認配(pei) ...
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詳解半導體失效分析流程方法總結
1 OM 顯(xian)微鏡觀測,外觀分析2 C-SAM(超聲波(bo)掃描顯(xian)微鏡)(1)材料內(nei)部的晶格(ge)結構(gou),雜質顆粒,夾(jia)雜物(wu)(wu),沉淀(dian)物(wu)(wu),(2) 內(nei)部裂紋。(3)分層缺陷。(4 ...